内存的主要故障都出现在模块寿命周期开始和

　　一直深受商务人士和女性用户的青睐，但由于外形构造的轻薄设计要求，内部留给硬件安装的空间十分有限。虽然每台笔记本都有着十分科学和高效的散热系统，但笔记本电脑内部十分紧凑的布局依然会给硬件的散热造成一定的影响。

　　尤其是对于那些打算通过加装内存的方式，来升级内存容量的笔记本用户来说，要在狭小的空间内安装两条内存，更增加了对内存品质和稳定性的考验。如果您所购买的内存的品质和稳定性在出前没有能够得到严格的检测，很容易导致内存在使用一段时间或温度持续升高后出现蓝屏或死机的情况。

　　不过，在其的生产工艺中，所引入的“DBT高温老化测试技术”却可以很好的杜绝这一问题的出现。

　　GeIL金邦科技的DBT高温老化测试技术，英文全称为Die-Hard Burn-in Technology。其相关技术和软硬件完全是由其自主研发，因此能发挥效益亦能化的运用在金邦广泛的产品线量产制程中。

　　由上面的“内存条可靠度BATHTUB曲线图”我们可以了解到，后的1/10阶段。内存在寿命周期开始阶段出现的问题称为早衰期内故障。而DBT烧机老化技术就是通过由工作环境和电气性能两方面对内存模块进行苛刻的测试，迫使早衰期内故障不是在客户使用后的几个月才出现，而是缩短至内存出前的几小时出现。

　　DBT启动后，GeIL研发的动态测试能针对温度、电压及电流提供益的测试平台，捡选出精良的模块筛选并摒除体质较弱易衰老的内存，提供客户质量的产品并提升客户满意度及信心，竖立标竿！DBT有着极高的测试弹性，其可测试的温度为100摄氏度，长时间可达24小时，此特性提供了DBT可完全依产品或客户需求而量身订做的测试可能。GeIL金邦研发的DBT老化炉，客制化的controller母板上一次可容纳多达1000支的内存，同时进行烧机老化测试，捡选出精良的模块。

　　据数据显示，目前一般DRAM模块供应市场上的RMA比例约为1-2％，若经高温老化测试机台测试的模块，其平均的产品不良率可降低至0.01%以下。也就是说10，000条模块仅有1条会有不良，甚至没有不良的情形，这大大保证了金邦笔记本内存产品在出时的品质，使其长时间在高温环境下运行也不会出现任何稳定性的问题。
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